高精度0.1微米自動薄膜測厚儀

在工業生產和生活應用中，薄膜厚度（例如微電子薄膜，光學薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導薄膜等）是一項非常重要的參數，因為它直接關系到薄膜材料能否正常工作，除此之外，薄膜材料的力學性能，如透光性能、磁性能、熱導率、表面結構等都與厚度密不可分。

眾測機電研發生產的高精度0.1微米自動薄膜測厚儀THK-01適用于2mm范圍內各種薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片等硬質和軟質材料厚度的測量。該儀器精度高，誤差小，操作簡單方便，同時配備微型打印機，方便查看和打印數據結果。

自動薄膜測厚儀

高精度0.1微米自動薄膜測厚儀THK-01主要參數：
通用名稱：測厚儀
測量范圍：0～2mm（標配）；0～6mm、0～12mm（選配）
分辨率：0.1μm
測試速度：1～25次/min
測量頭平行度：±2μm（機械調整，量塊校驗）
重復性：0.3μm
測量壓力：17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(紙張)；
接觸面積：50mm2(薄膜)； 200mm2 (紙張)；
               薄膜、紙張任選一種，非標可定制
電源：AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸：300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
約凈重：30Kg

參照標準：GB/T6672-2001塑料薄膜和薄片厚度測定_機械測量法、GB/T 451.3-2002 紙和紙板厚度的測定、GB/T6547 瓦楞紙板厚度的測定法、ASTMD1777 測量紡織材料的厚度的標準試驗方法、TAPPIT411 美國造紙工業標準TAPPI Standard、ISO 4593 塑料薄膜和薄板機械掃描測定厚度、ISO534 紙和紙板厚度、緊度和松厚度測試、ISO3034 瓦楞紙板--單張厚度的測定、 DIN53105 紙和紙板檢驗．平均單頁厚度、未加工厚度和特殊體積規定、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817